Крупнейшая бесплатная информационно-справочная система онлайн доступа к полному собранию технических нормативно-правовых актов РФ. Огромная база технических нормативов (более 150 тысяч документов) и полное собрание национальных стандартов, аутентичное официальной базе Госстандарта. GOSTRF.com - это более 1 Терабайта бесплатной технической информации для всех пользователей интернета. Все электронные копии представленных здесь документов могут распространяться без каких-либо ограничений. Поощряется распространение информации с этого сайта на любых других ресурсах. Каждый человек имеет право на неограниченный доступ к этим документам! Каждый человек имеет право на знание требований, изложенных в данных нормативно-правовых актах!

  


|| ЮРИДИЧЕСКИЕ КОНСУЛЬТАЦИИ || НОВОСТИ ДЛЯ ДЕЛОВЫХ ЛЮДЕЙ ||
Поиск документов в информационно-справочной системе:
 

ГОСТ Р 8.698-2010

Государственная система обеспечения единства измерений. Размерные параметры наночастиц и тонких пленок. Методика выполнения измерений с помощью малоуглового рентгеновского дифрактометра

Обозначение: ГОСТ Р 8.698-2010
Обозначение англ: GOST R 8.698-2010
Текущий статус документа: действует
Название документа рус.:Государственная система обеспечения единства измерений. Размерные параметры наночастиц и тонких пленок. Методика выполнения измерений с помощью малоуглового рентгеновского дифрактометра
Название документа англ.:State system for ensuring the uniformity of measurements. Dimensional parameters of nanoparticles and thin films. Method for measurement by means of a small angle X-ray scattering diffractometer
Дата актуализации текста:01.12.2013
Дата введения:01.09.2010
Область применения:Стандарт устанавливает методику выполнения следующих измерений с помощью автоматического рентгеновского малоуглового дифрактометра: - максимальных размеров и электронных радиусов инерции наночастиц в монодисперсных системах в диапазоне от 1 до 100 нм; - распределения наночастиц по размерам в полидисперсных системах в диапазоне от 1 до 100 нм; - общей толщины и размера периода повторения слоев в многослойных пленках толщиной от 1 до 100 нм. Стандарт распространяется на: - материалы, содержащие системы наночастиц со среднеарифметическим расстоянием между ними не менее 10 максимальных линейных размеров, с однородной электронной плотностью, большей или меньшей электронной плотности окружающей их среды; - многослойные пленки с известным числом одинаковых групп слоев, изготовленные на твердых плоских подложках.
Разработан: ОАО Научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума
ГУ РАН Институт кристаллографии им. А.В. Шубникова
ГОУВПО Московский физико-технический институт (государственный университет)
ФГУ Российский научный центр Курчатовский институт
Утверждён:10.02.2010 Федеральное агентство по техническому регулированию и метрологии (12-ст)
Издан: Стандартинформ (2010 г. )
Нормативные ссылки:
ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010
 






ГОСТЫ, СТРОИТЕЛЬНЫЕ и ТЕХНИЧЕСКИЕ НОРМАТИВЫ.
Некоммерческая онлайн система, содержащая все Российские Госты, национальные Стандарты и нормативы.
В Системе содержится более 150000 файлов нормативно-технической документации, действующей на территории РФ.
Система предназначена для широкого круга инженерно-технических специалистов.

Рейтинг@Mail.ru Яндекс цитирования

Copyright © www.gostrf.com, 2008 - 2016