Крупнейшая бесплатная информационно-справочная система онлайн доступа к полному собранию технических нормативно-правовых актов РФ. Огромная база технических нормативов (более 150 тысяч документов) и полное собрание национальных стандартов, аутентичное официальной базе Госстандарта. GOSTRF.com - это более 1 Терабайта бесплатной технической информации для всех пользователей интернета. Все электронные копии представленных здесь документов могут распространяться без каких-либо ограничений. Поощряется распространение информации с этого сайта на любых других ресурсах. Каждый человек имеет право на неограниченный доступ к этим документам! Каждый человек имеет право на знание требований, изложенных в данных нормативно-правовых актах!

  


|| ЮРИДИЧЕСКИЕ КОНСУЛЬТАЦИИ || НОВОСТИ ДЛЯ ДЕЛОВЫХ ЛЮДЕЙ ||
Поиск документов в информационно-справочной системе:
 

ГОСТ Р 8.696-2010

Государственная система обеспечения единства измерений. Межплоскостные расстояния в кристаллах и распределение интенсивностей в дифракционных картинах. Методика выполнения измерений с помощью электронного дифрактометра

Обозначение: ГОСТ Р 8.696-2010
Обозначение англ: GOST R 8.696-2010
Текущий статус документа: действует
Название документа рус.:Государственная система обеспечения единства измерений. Межплоскостные расстояния в кристаллах и распределение интенсивностей в дифракционных картинах. Методика выполнения измерений с помощью электронного дифрактометра
Название документа англ.:State system for ensuring the uniformity of measurements. Interplanar spacings in crystals and the intensity distribution in diffraction patterns. Method for measurement by means of an electron diffractometer
Дата актуализации текста:01.12.2013
Дата введения:01.09.2010
Область применения:Стандарт устанавливает методику выполнения измерений межплоскостных расстояний в кристаллах, кристаллических тонких пленках и покрытиях, нанокристаллах и распределений интенсивностей рефлексов в дифракционных картинах, полученных при дифракции пучка электронов на кристаллах с помощью электронного дифрактометра. Стандарт применяют для определения межплоскостных расстояний в кристаллах в диапазоне линейных размеров от 0,08 до 20,00 нм и распределения токовых интенсивностей рефлексов в дифракционных картинах, полученных от кристаллов в диапазоне от 10 в ст. минус 14 до 10 в ст. минус 6 А. Стандарт не устанавливает методику определения типа элементарной решетки кристалла и индекса Миллера плоскостей кристалла, между которыми вычисляют расстояния.
Разработан: ОАО Научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума
ФГУП Российский научный центр Курчатовский институт
ГУ РАН Институт кристаллографии им. А.В. Шубникова
ГОУВПО Московский физико-технический институт (государственный университет)
Утверждён:10.02.2010 Федеральное агентство по техническому регулированию и метрологии (10-ст)
Издан: Стандартинформ (2010 г. )
Нормативные ссылки:
ГОСТ Р 8.696-2010ГОСТ Р 8.696-2010ГОСТ Р 8.696-2010ГОСТ Р 8.696-2010ГОСТ Р 8.696-2010ГОСТ Р 8.696-2010ГОСТ Р 8.696-2010ГОСТ Р 8.696-2010ГОСТ Р 8.696-2010ГОСТ Р 8.696-2010ГОСТ Р 8.696-2010ГОСТ Р 8.696-2010ГОСТ Р 8.696-2010ГОСТ Р 8.696-2010ГОСТ Р 8.696-2010
 






ГОСТЫ, СТРОИТЕЛЬНЫЕ и ТЕХНИЧЕСКИЕ НОРМАТИВЫ.
Некоммерческая онлайн система, содержащая все Российские Госты, национальные Стандарты и нормативы.
В Системе содержится более 150000 файлов нормативно-технической документации, действующей на территории РФ.
Система предназначена для широкого круга инженерно-технических специалистов.

Рейтинг@Mail.ru Яндекс цитирования

Copyright © www.gostrf.com, 2008 - 2017