|
|
Утвержден Постоянной Комиссией по сотрудничеству в области стандартизации Дрезден, декабрь 1983 г. Настоящий стандарт СЭВ распространяется на пластины монокристаллического кремния (далее - пластины), предназначенные для производства полупроводниковых приборов и интегральных микросхем. Размеры пластин должны соответствовать приведенным в таблице.
* Предпочтительные числовые значения величин. ИНФОРМАЦИОННОЕ ПРИЛОЖЕНИЕТЕРМИНЫ И ОПРЕДЕЛЕНИЯ
Допускается скругление края пластины в пределах полей допусков.
ИНФОРМАЦИОННЫЕ ДАННЫЕ 1. Автор - делегация ЧССР в Постоянной Комиссии по сотрудничеству в области радиотехнической и электронной промышленности. 2. Тема 18.600.06-81. 3. Стандарт СЭВ утвержден на 54-м заседании ПКС. 4. Сроки начала применения стандарта СЭВ:
5. Срок проверки - 1990 г.
|
||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
|
ГОСТЫ, СТРОИТЕЛЬНЫЕ и ТЕХНИЧЕСКИЕ НОРМАТИВЫ. Некоммерческая онлайн система, содержащая все Российские Госты, национальные Стандарты и нормативы. В Системе содержится более 150000 файлов нормативно-технической документации, действующей на территории РФ. Система предназначена для широкого круга инженерно-технических специалистов. Copyright © www.gostrf.com, 2008 - 2025 |