Крупнейшая бесплатная
информационно-справочная система онлайн доступа к полному собранию технических нормативно-правовых актов
РФ. Огромная база технических нормативов (более 150 тысяч документов) и полное собрание национальных стандартов, аутентичное официальной базе Госстандарта.
|
|||
|
Утвержден Постоянной Комиссией по сотрудничеству в области стандартизации Дрезден, декабрь 1983 г. Настоящий стандарт СЭВ распространяется на пластины монокристаллического кремния (далее - пластины), предназначенные для производства полупроводниковых приборов и интегральных микросхем. Размеры пластин должны соответствовать приведенным в таблице.
* Предпочтительные числовые значения величин. ИНФОРМАЦИОННОЕ ПРИЛОЖЕНИЕТЕРМИНЫ И ОПРЕДЕЛЕНИЯ
Допускается скругление края пластины в пределах полей допусков.
ИНФОРМАЦИОННЫЕ ДАННЫЕ 1. Автор - делегация ЧССР в Постоянной Комиссии по сотрудничеству в области радиотехнической и электронной промышленности. 2. Тема 18.600.06-81. 3. Стандарт СЭВ утвержден на 54-м заседании ПКС. 4. Сроки начала применения стандарта СЭВ:
5. Срок проверки - 1990 г.
|