Обозначение: | ГОСТ Р 8.698-2010 |
Обозначение англ: | GOST R 8.698-2010 |
Текущий статус документа: | действует |
Название документа рус.: | Государственная система обеспечения единства измерений. Размерные параметры наночастиц и тонких пленок. Методика выполнения измерений с помощью малоуглового рентгеновского дифрактометра |
Название документа англ.: | State system for ensuring the uniformity of measurements. Dimensional parameters of nanoparticles and thin films. Method for measurement by means of a small angle X-ray scattering diffractometer |
Дата актуализации текста: | 01.12.2013 |
Дата введения: | 01.09.2010 |
Область применения: | Стандарт устанавливает методику выполнения следующих измерений с помощью автоматического рентгеновского малоуглового дифрактометра: - максимальных размеров и электронных радиусов инерции наночастиц в монодисперсных системах в диапазоне от 1 до 100 нм; - распределения наночастиц по размерам в полидисперсных системах в диапазоне от 1 до 100 нм; - общей толщины и размера периода повторения слоев в многослойных пленках толщиной от 1 до 100 нм. Стандарт распространяется на: - материалы, содержащие системы наночастиц со среднеарифметическим расстоянием между ними не менее 10 максимальных линейных размеров, с однородной электронной плотностью, большей или меньшей электронной плотности окружающей их среды; - многослойные пленки с известным числом одинаковых групп слоев, изготовленные на твердых плоских подложках. |
Разработан: | ОАО Научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума ГУ РАН Институт кристаллографии им. А.В. Шубникова ГОУВПО Московский физико-технический институт (государственный университет) ФГУ Российский научный центр Курчатовский институт
|
Утверждён: | 10.02.2010 Федеральное агентство по техническому регулированию и метрологии (12-ст)
|
Издан: | Стандартинформ (2010 г. )
|
Нормативные ссылки: | |