Обозначение: | ГОСТ 4.64-80 |
Текущий статус документа: | действующий |
Название документа рус.: | Система показателей качества продукции. Полупроводниковые материалы. Номенклатура показателей |
Название документа англ.: | Production quality system. Semiconductor materials. Indices nomenсlature |
Дата актуализации текста: | 01.12.2013 |
Дата издания: | 01.02.1985 |
Дата введения: | 30.06.1981 |
Дата последнего изменения: | 22.05.2013 |
Переиздание: | переиздание с изм. 1 |
Область применения: | Настоящий стандарт устанавливает номенклатуру основных показателей качества объемных монокристаллов полупроводниковых материалов, включаемых в ТЗ на НИР по определению перспектив развития этой группы продукции, государственные стандарты с перспективными требованиями, а также номенклатуру показателей качества, включаемых в разрабатываемые и перспективные стандарты на продукцию, ТЗ на ОКР, технические условия, карты технического уровня и качества продукции |
Список изменений: | №1 от 01.07.1985 (рег. 13.03.1985) «Срок действия продлен» |
|