Обозначение: | ГОСТ 18986.20-77 |
Текущий статус документа: | действующий |
Название документа рус.: | Стабилитроны полупроводниковые прецизионные. Метод измерения времени выхода на режим |
Название документа англ.: | Semiconductor diodes. Reference zener diodes. Method for measuring warm up time |
Дата актуализации текста: | 01.12.2013 |
Дата издания: | 01.08.2002 |
Дата введения: | 01.01.1979 |
Дата последнего изменения: | 22.05.2013 |
Переиздание: | переиздание с изм. 1 |
Область применения: | Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые прецизионные стабилитроны, имеющие нормированную временную нестабильность напряжения стабилизации и устанавливает метод измерения времени выхода стабилитронов на режим tвых. и требования безопасности |
Список изменений: | №0 от 01.10.2005 (рег. 01.10.2005) «Дата введения перенесена» №1 от 01.03.1987 (рег. 04.11.1986) «Срок действия продлен» |
Приложение №1: | Поправка к ГОСТ 18986.20-77 |
|