| Обозначение: | ГОСТ 24523.1-80 |
| Текущий статус документа: | действующий |
| Название документа рус.: | Периклаз электротехнический. Метод определения двуокиси кремния |
| Название документа англ.: | Electrotechnical periclase. Method for the determination of silicon dioxide |
| Дата актуализации текста: | 01.12.2013 |
| Дата издания: | 01.08.2004 |
| Дата введения: | 30.06.1983 |
| Дата последнего изменения: | 22.05.2013 |
| Переиздание: | переиздание с изм. 1 |
| Область применения: | Настоящий стандарт распространяется на электротехнический периклаз и устанавливает фотометрический метод определения массовых долей двуокиси кремния в диапазоне от 0,2 до 3,0%.
Сущность метода заключается в образовании желтого комплексного соединения кремнемолибденовой гетерополикислоты, восстановлении его аскорбиновой кислотой в синее комплексное соединение и фотометрировании окрашенного раствора при длине волны 810 нм |
| Список изменений: | №1 от 01.07.1988 (рег. 27.10.1987) «Срок действия продлен» №2 от 01.01.1998 (рег. 23.09.1997) «Срок действия продлен» |
|