|
ГОСТ 8.192-76Государственная система обеспечения единства измерений. Государственный первичный эталон и общесоюзная поверочная схема для средств измерений распределений углов сдвига фаз и отношений напряженностей поля в раскрывах антенных систем с размерами рабочей поверхности от 0,5х0,5 до 3х3 м2 в диапазоне частот от 8,2 до 12 ГГц
Обозначение: | ГОСТ 8.192-76 |
Текущий статус документа: | действующий |
Название документа рус.: | Государственная система обеспечения единства измерений. Государственный первичный эталон и общесоюзная поверочная схема для средств измерений распределений углов сдвига фаз и отношений напряженностей поля в раскрывах антенных систем с размерами рабочей поверхности от 0,5х0,5 до 3х3 м2 в диапазоне частот от 8,2 до 12 ГГц | Название документа англ.: | State system for ensuring the uniformity of measurements. State primary standard and all-union verification schedule for means measuring phase shift angle and field intensities ratio distribution in apertures of antenna system with operating dimension from 0,5x0,5 to 3x3 m2 at the frequency range from 8,2 to 12 GHz | Дата актуализации текста: | 01.12.2013 | Дата издания: | 13.07.1976 | Дата введения: | 01.01.1977 | Дата последнего изменения: | 22.05.2013 | Область применения: | Настоящий стандарт распространяется на государственный первичный эталон и общесоюзную поверочную схему для средств измерений распределений углов сдвига фаз и отношений напряженностей поля в раскрывах антенных систем с размерами рабочей поверхности от 0,5х0,5 до 3х3 м кв. в диапазоне частот 8,2-12 ГГц и устанавливает назначение государственного первичного эталона единиц угла сдвига фаз - градуса и отношения напряженностей безразмерной величины - поля в раскрывах антенных систем с размерами рабочей поверхноси 1,5-1,5 м кв. в диапазоне частот 8,2-12 ГГц, комплекс основных средств измерений, входящих в его состав, основные метрологические параметры эталона и порядок передачи размеров единиц угла сдвига фаз и отношения напряженностей электромагнитного поля в раскрывах антенны систем от первичного эталона при помощи вторичных эталонов и образцовых средств измерений рабочим средствам измерений с указанием погрешностей и основных методов поверки | |
|
|