Обозначение: | ГОСТ 18986.4-73 |
Текущий статус документа: | действующий |
Название документа рус.: | Диоды полупроводниковые. Методы измерения емкости |
Название документа англ.: | Semiconductor diodes. Methods for measuring capacitance |
Дата актуализации текста: | 01.12.2013 |
Дата издания: | 01.07.2000 |
Дата введения: | 01.01.1975 |
Дата последнего изменения: | 22.05.2013 |
Переиздание: | переиздание с изм. 1 |
Область применения: | Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды и устанавливает методы измерения общей емкости диода: метод емкостно-омического делителя; мостовой метод; частотный метод |
Список изменений: | №1 от 01.02.1982 (рег. 26.01.1982) «Срок действия продлен» №2 от 01.03.1987 (рег. 03.10.1986) «Срок действия продлен» |
|